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2008IEEE电路与系统测试与诊断国际学术会议征稿(2008 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis)
2008年 IEEE 电路与系统测试 诊断 国际学术会议
2008/6/1
ICTD08(2008 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis ):电路与系统测试与诊断国际学术会议,是由IEEE电路与系统(CAS)协会发起组织并提供资助的国际会议,并得到中国电子学会、中国仪器仪表学会大力支持,该会议将在2008年10月25日-26日在中国最佳旅游城市成都市举办,具体...